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人工晶狀體(ti) 光學偏心測試儀(yi) 的測量原理：將人工晶狀體(ti) 置於(yu) 一個(ge) 處方直徑（10或11mm）的夾具內(nei) 後，測量其光學主體(ti) 部分的幾何中心和夾具孔座中心之間的偏移距離。 人工晶狀體(ti) 光學偏心測量功能已經包含在IM-3中，無須單獨采購。
人工晶狀體(ti) 光照穩定性試驗定製夾具SOLAR-8和SOLAR-8A是專(zhuan) 為(wei) 人工晶狀體(ti) 光照定製的夾具，配合本公司的S-1500e-IOL或S-3000e-IOL設備使用，可以平放在設備的測試平台上，使待測人工晶狀體(ti) 穩定對著光源接受長時間的照射試驗。
人工晶狀體(ti) 光學傾(qing) 角測試儀(yi) 的測量原理：將人工晶狀體(ti) 置於(yu) 一個(ge) 處方直徑（10或11mm）的夾具內(nei) 後，測量四個(ge) 角度（0-90-180-270度）邊緣四個(ge) 點的距離和高度，計算出光學傾(qing) 角。 人工晶狀體(ti) 光學傾(qing) 角測量功能已經包含在IM-3中，無須單獨采購。
Brass-IOLA人工晶狀體(ti) 半成品測量儀(yi) 於(yu) 測量人工晶狀體(ti) 半成品的曲率半徑和分析其表麵質量。也可用於(yu) 車床對刀。
人工晶狀體(ti) 接觸角測試儀(yi) 的測量原理：以未壓縮的狀態作為(wei) 參考，當人工晶狀體(ti) 被壓縮到一個(ge) 處方直徑（10或11mm）時，即被置入一個(ge) 處方直徑的夾具後，測量沿光軸方向的位移（即垂直方向的位移變化） 人工晶狀體(ti) 壓縮力下軸向位移的測量功能已經包含在IM-3中，無須單獨采購。
Brass-ASIS人工晶狀體(ti) 半成品測量儀(yi) （大批量型）帶有矩陣盤的Brass-IOLA，可以實現一次性測量幾十個(ge) 樣品。
JCF-IOL人工晶狀體(ti) 投影儀(yi) 是應用於(yu) 人工晶狀體(ti) 的高精度光學投影儀(yi) 。
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