從(cong) 原料源頭把控產(chan) 品品質
良好的性能來自一絲不苟的執著13020298877
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簡要描述:人工晶狀體(ti) 曲率半徑測試儀(yi) 是一款專(zhuan) 門用於(yu) 測量人工晶狀體(ti) 表麵曲率半徑的幹涉儀(yi) ,具有極大的實用性和高精度的特點,可以按照用戶產(chan) 品的實際外形定製夾具以達到大測量效率。
產(chan) 品分類
Product Category詳細介紹
由於(yu) 在人工晶狀體(ti) 生產(chan) 過程中提供了可靠,準確,快速和客觀的光學測量,Brass係列幹涉儀(yi) 已經取得了全世界廣大用戶的*信任。Brass係列幹涉儀(yi) 能夠完成反射式幾何測量,同時可提供球麵,環曲麵,多焦點,非球麵和各種複雜曲麵的可視化條紋圖,幫助您交給你控製加工質量。
特點:
選配:
技術規格:
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