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人工晶狀體曲率半徑測試儀

簡要描述:人工晶狀體(ti) 曲率半徑測試儀(yi) 是一款專(zhuan) 門用於(yu) 測量人工晶狀體(ti) 表麵曲率半徑的幹涉儀(yi) ,具有極大的實用性和高精度的特點,可以按照用戶產(chan) 品的實際外形定製夾具以達到大測量效率。

  • 產品型號:BRASS
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-06-29
  • 訪  問  量:2667

詳細介紹

由於(yu) 在人工晶狀體(ti) 生產(chan) 過程中提供了可靠,準確,快速和客觀的光學測量,Brass係列幹涉儀(yi) 已經取得了全世界廣大用戶的*信任。Brass係列幹涉儀(yi) 能夠完成反射式幾何測量,同時可提供球麵,環曲麵,多焦點,非球麵和各種複雜曲麵的可視化條紋圖,幫助您交給你控製加工質量。

 

特點:

 

  • 高精度、友好的用戶界麵,簡潔的操作,專注於人工晶狀體鏡片工業,堅固耐用的剪切幹涉儀
  • 曲率半徑測量---前麵和後表麵
  • 柱鏡和軸線測量
  • 多焦點測量
  • 非球麵參數:e值,K值和SF值
  • 表麵質量 / 均勻度

 

選配:

  • 軟件和硬件可定製
  • 可配合自動化控製

 

技術規格:

  • 測量精度:+/- 5 um
  • 測量分辨率:0.5 um
  • 重複精度:優於2 um
  • 尺寸:510*260*410mm(L*W*H)
  • 重量:25Kg
  • 操作係統:Windows XP/7 (32_64)/8.1/10
  • 電源:110/220V AC 50、60Hz
  • 測量時間:6秒(球麵)

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