SUPER MAPPER PLUS (SMC+)近視防控鏡片光學分析儀(yi) 基於(yu) Rotlex專(zhuan) 有的摩爾偏折技術，利用波前透射方式獲得整個(ge) 測量區域內(nei) 多達2500萬(wan) 個(ge) 點的屈光度，從(cong) 而獲得鏡片的各種屈光細節。 SMC具有測量動態範圍廣，精度高等特點，幾乎適用於(yu) 所有類型的眼鏡鏡片或其他類似產(chan) 品，如單焦點，散光，多焦點和各種環狀離焦型及多點離焦型近視防控鏡片。

SUPER MAPPER （SMC）超級地形圖儀(yi) 基於(yu) Rotlex專(zhuan) 有的摩爾偏折技術，利用波前透射方式獲得整個(ge) 測量區域內(nei) 多達約兩(liang) 百萬(wan) 個(ge) 點的屈光度，從(cong) 而得到鏡片的各種屈光細節。 SMC具有測量動態範圍廣，精度高等特點，幾乎適用於(yu) 所有類型的眼鏡鏡片或其他類似產(chan) 品，如單焦點，散光，多焦點和各種環狀離焦型及多點離焦型近視防控鏡片。

FFV鏡片光學分析儀(yi) 是一款高精度的鏡片屈光度地形圖測量設備，除了擁有Mapper（FFA）的所有特點外，FFV還*自由曲麵模擬和比較模塊，特別適用於(yu) 自由曲麵加工業(ye) 。

Mapper（FFA）鏡片光學分析儀(yi) 是FFV的簡化版，是一款高精度的鏡片屈光度地形圖測量設備，結合了摩爾條紋幹涉和雙光柵LAU效應的測量光路更加簡潔耐用，是行業(ye) 內(nei) *的測量設備。

Class-Plus鏡片光學分析儀(yi) （旗艦版）是一款革命性的眼鏡片檢驗設備，於(yu) 鏡片工廠和實驗室檢查整個(ge) 鏡片的光學分布情況，使用了專(zhuan) 有的莫爾條紋幹涉技術，具有速度快，精度高，數據多的特點。