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人工晶狀體(ti) 曲率半徑測試儀(yi) 是一款專(zhuan) 門用於(yu) 測量人工晶狀體(ti) 表麵曲率半徑的幹涉儀(yi) ，具有極大的實用性和高精度的特點，可以按照用戶產(chan) 品的實際外形定製夾具以達到大測量效率。
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